Inte l'industria de l'ispeçion ottica, se a resoluçion de l'attressamento a no soddisfa i requixii, saià diffiçile descrovî con cua di difetti piccin. Piggiando l’ispeçion de wafer comme exempio, quande s’attreuva de fronte à de partiçelle picciñe ò di difetti solo che de dexeñe de nanometri, i segnæ despersci en debole, e î rendan diffiçili da identificâ de forma efficaçe inte di scistemi d’imaging à bassa bassa.
Pe de ciù, e lente tradiçionale an unna profonditæ de campo fissa. Quande gh’é unna differensa d’ertessa tra i oggetti che vëgnan ispeçionæ, comme a superfiçie curva e o bòrdo de lente ottiche ò de struttue de lente moltipleie, l’é bon che se verifiche «defocus», ch’o rende imposcibile creuve tutta l’area ciæa inte unn’imagine sencia, co-o resultato de çerti difetti che vëgnan persci.
In termini d’algoritmi d’ispeçion vixiva, unna discordansa tra e impostaçioin de livello e i standard de proçesso reali peuan portâ ascì à di difetti persci. Prexempio, unna perçentuale fissa de mainea impropia pe l'offset articolare de saldatua, ch'a l'é tròppo streita, a peu fâ de mòddo che i difetti ciù piccin seggian persci. Into mæximo tempo, despæge qualitæ de difetti (comme i grattaçi, i bruxi, i danni, e ampolle, etc.) an de caratteristiche de diffuxon ottica, che domandan l’ottimizzaçion mirâ di metodi de relevaçion e di parametri; in caxo conträio, son ascì propensi à ëse persci.
Affrontâ i ponti de dô commun inte l'industria comme "difficoltæ into catturâ di difetti de minuto, un reconoscimento debole de scene complesse, e de crenatue inta tracciabilitæ piña de proçesci", o l'à avansou Huzhou Zhongke Co., a machina d'ispeçion vixiva autilizzâ à Ltd. L’adattamento de l’algoritmo, e a gestion serrâ de l’intrego proçesso», con redue scignificativamente o tasso de relevaçioin persci.
Mini LED LED o l’é apreuvo à l’attençion pe l’ispeçion ottica de l’ispeçion ottica in sce l’identificaçion di difetti microscòpichi e preçixi. Dotou de unna telecamera industriâ à erta mæxima, e unna lente de zoom motorizzou, a peu piggiâ de fæto di ponti neigri e de crenatue in sciâ superfiçie do chip, con resòlve o problema di difetti piccin che mancan apreuvo a-a resoluçion insuffiçente. Insemme a-a tecnologia confocale laser, l'attressamento o se rompe pe-e limitaçioin da profonditæ tradiçionale, con acquistâ de figue ciæe inte tutto o campo ascì quande gh'é de differense d'ertessa inti oggetti che vëgnan ispeçionæ, con schivâ de desfætâ di problemi.
Pe de ciù, o materiale o l'à ciù vivagne de luxe incorporæ, compreiso a luxe laterale, a luxe coasciâ e a luxe de l'anello, che peuan cangiâ automaticamente l'angolo e l'intensitæ da vivagna de luxe in base a-o tipo de difetto, con affrontâ effettivamente o problema do segnâ debole provocou da l'interferensa de luxe.
A machina d'etichettatua de l'ispeçion vixiva do CCD a se conçentra in sciô relevâ di difetti inte l'apparensa de etichette e di produti finii. Pe mezo de unna telecamera de matrixe d’area erta e un anello de l’illuminaçion supplementâ, l’apparecchio o scanscion automaticamente l’intrega area de l’etichetta primma de l’etichetta e o regola dinamicamente l’intensitæ de l’illuminaçion in azzonta pe schivâ i difetti de l’etichetta ch’a manca provocâ da-e fluttuaçioin inta luxe ambiente. Sto fæto o l’assegua che anche di difetti ciù piccin comme i caratteri che mancan inta stampa ò inti còdiçi QR sfoggiæ peuan vegnî identificæ con cua.
Dòppo avei completou l'etichettatua, l'attressamento o l'anià ascì unna segonda ispeçion piña de l'apparensa do produto finio, con relevâ a-o mæximo tempo e deviaçioin de etichette e di difetti de superfiçie, e compoñan quæ se segge pertuxo d'ispeçion ch'o no l'é coverto into proçesso preçedente, formando coscì un scistema de contròllo da qualitæ doggia da-o produto fin à un produto finio.
Pe mezo de l'operaçion de collaboraçion de l'AOI à LED e de l'etichettatua Mini, l'industria de l'ispeçion ottica a l'à ottegnuo di megioamenti scignificativi inte l'affrontâ o ponto de dô do nucleo de "no ëse boin à vedde ciæamente." I algoritmi s’adattan automaticamente à di scenäi complesci e o proçesso intrego de dæti d’ispeçion o se peu tracciâ e o s’oggetto à unna verifica segondäia, e o l’elimina de fæto e carense de proçesso e o fornisce unn’asseguaçion segua pe-o contròllo da qualitæ di produti de preçixon.
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